本申请涉及显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
背景技术：
随着信息社会发展，正越来越需要用于显示图像的各种形式的显示装置，并且近年来，诸如液晶显示器(LCD)、等离子体显示板(PDP)和有机发光显示装置(OLED)这样的各种显示装置已经得到利用。
诸如各种电压布线的信号线、诸如晶体管和电容器的各种电路元件以及各种图案存在于这些不同装置的显示面板中。当缺陷出现在这种显示面板中时，可能在显示面板中出现诸如作为电流过度流动超出正常范围的情况的过载电流这样的异常电流、或者在不允许电流流动的情况下流动的电流。
当在显示面板中出现这种异常电流时，会产生高温度的热量。因此，可能发生显示面板的一部分(例如，电路元件、偏振板等)或者整个显示面板发生燃烧的现象。
目前为止，已经在电路技术领域中提出了用于检测诸如过载电流这样的异常电流的各种技术。
然而，常规的检测技术不但在检测显示面板的面板缺陷方面具有局限性，而且仅对应于过载电流检测技术，并且不是用于精确检测在不允许电流流动的情况下流动的甚至非常小的电流的技术。
另外，常规的检测技术已经不但在使用和实现复杂的检测电路方面具有高成本的缺点，而且具有检测精度显著降低的问题。
此外，常规的检测技术已经具有无法检测到由于各种原因而造成的异常电流的问题。
此外，常规的检测技术已经具有由于不能在出现过载电流时立即且快速地检测异常电流而造成的无法提前防止电路被破坏或者或烧坏的问题。
技术实现要素：
本实施方式的一个目的在于提供一种能够通过感测出现在显示面板中的电流来检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
本实施方式的另一目的在于提供一种能够通过将在显示面板中产生的电流转换成电压并且感测该电压来更精确地检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
本实施方式的又一目的在于提供一种能够使用简单电路来实现面板缺陷检测的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
本实施方式的又一目的在于提供一种能够精确检测各种类型的面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
本实施方式的又一目的在于提供一种能够通过在出现面板缺陷时立即且快速地检测面板缺陷来提前防止显示面板的一部分或者整个显示面板被破坏或者被烧坏的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
本实施方式的又一目的在于提供一种能够在根本不影响用户的观看或屏幕操作的情况下检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
一种实施方式可以提供：显示装置，在该显示装置中，布置在被施加用于驱动显示面板的电压的位置中的控制开关元件可以识别在断开情况下在该显示面板中是否出现异常电流，以便在面板缺陷检测间隔内容易且准确地检测面板缺陷，其中，所述面板缺陷检测间隔是当不存在面板缺陷时在面板中不出现异常电流的间隔；面板缺陷检测系统；以及面板缺陷检测方法。
另一实施方式可以提供一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，在该显示面板中布置有多条数据线和多条选通线，并且布置有多个子像素；控制开关元件，该控制开关元件电连接在用于驱动所述显示面板的电压被施加到所述显示面板的施加节点(applicationnode)和供应被施加到所述显示面板的所述电压的供应节点之间；以及感测模块，该感测模块用于感测当所述控制开关元件被断开时流过所述施加节点的电流或者依照该电流的电压。
所述显示装置的所述控制开关元件可以在异常电流尚未出现在所述显示面板中的状态下被断开。
所述显示装置的所述控制开关元件可以在显示具有等于或低于特定值的亮度的预定画面的间隔中被断开。
又一实施方式可以提供一种显示装置，该显示装置包括：显示面板，在该显示面板中布置有多条数据线和多条选通线，并且布置有多个子像素；以及感测模块，该感测模式用于当在所述显示面板中显示具有等于或低于特定值的亮度的画面时感测在所述显示面板中是否出现异常电流。
又一实施方式可以提供一种面板缺陷检测系统，该面板缺陷检测系统包括：控制开关元件，该控制开关元件电连接在用于驱动所述显示面板的电压被施加到所述显示面板的施加节点和供应被施加到所述显示面板的所述电压的供应节点之间；以及感测模块，该感测模块用于感测当所述控制开关元件被断开时流过所述施加节点的电流或者依照该电流的电压，并且基于感测结果来检测是否存在面板缺陷。
又一实施方式可以提供一种面板缺陷检测方法，该面板缺陷检测方法包括布置有多条数据线和多条选通线并且布置有多个子像素的显示装置的显示面板。
所述面板缺陷检测方法可以包括以下步骤：通过将电连接在用于驱动所述显示面板的电压被施加到所述显示面板的施加节点和供应被施加到所述显示面板的所述电压的供应节点之间的控制开关元件断开来设置面板缺陷检测环境；基于通过感测当所述控制开关元件被断开时是否出现从所述显示面板流向所述施加节点的电流或者该电流的大小而获得的感测结果，来检测是否存在面板缺陷；以及当出现从所述显示面板流向所述施加节点的电流或者感测到从所述显示面板流向所述施加节点的所述电流等于或大于阈值电流值时，针对所述面板缺陷来执行预定的对策处理。
在设置面板缺陷检测环境的步骤之前，所述面板缺陷检测方法还可以包括以下步骤：识别用于显示具有等于或低于特定值的亮度的画面的间隔、用于感测子像素特性值的间隔、或者用于当图像正在被驱动时显示具有等于或低于特定值的亮度的画面的间隔，作为面板缺陷检测间隔。
根据如上所述的本实施方式，能够提供一种能够通过感测在显示面板中产生的电流来检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
另外，根据本实施方式，能够提供一种通过将在显示面板中产生的电流转换成电压并且感测该电压来更准确地检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，能够提供一种能够使用简单电路来实现面板缺陷检测的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，能够提供一种能够准确地检测各种类型的面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，能够提供一种能够通过在出现面板缺陷时立即且快速地检测所述面板缺陷来提前防止显示面板的一部分或者整个显示面板被破坏或者被烧坏的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，能够提供一种能够在根本不影响用户的观看或屏幕操作的情况下检测面板缺陷的显示装置、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
附图说明
图1和图2是根据本实施方式的显示装置的系统配置图；
图3和图4是根据本实施方式的显示装置的子像素结构的示例图；
图5和图6是示意性地例示了在根据本实施方式的显示装置中根据面板缺陷检测阻抗元件Z的类型或者感测方案(感测位置)类型的面板缺陷检测系统的图；
图7是例示了在根据本实施方式的显示装置的面板缺陷检测系统中控制开关元件CSW的操作定时和面板缺陷检测定时的图；
图8、图9、图10和图11是简单地例示了在根据本实施方式的显示装置中根据面板驱动电压的类型和面板缺陷检测阻抗元件的类型的四种类型的面板缺陷检测系统(第一面板缺陷检测系统、第二面板缺陷检测系统、第三面板缺陷检测系统和第四面板缺陷检测系统)；
图12、图13、图14、图15、图16、图17、图18、图19、图20和图21是根据本实施方式的第一面板缺陷检测系统的实现的示例；
图22和图23是根据本实施方式的第二面板缺陷检测系统的实现的示例；
图24、图25、图26和图27是根据本实施方式的第三面板缺陷检测系统的实现的示例；
图28和图29是根据本实施方式的第四面板缺陷检测系统的实现的示例；
图32是根据本实施方式的面板缺陷检测方法的流程图。
附图标记的说明
100：显示装置
110：显示面板
120：数据驱动器
130：选通驱动器
140：控制器
具体实施方式
在下文中，将参照附图详细地描述本发明的一些实施方式。当通过附图标记来指代附图中的元件时，相同的元件将由相同的附图标记来指定，尽管这些元件在不同的附图中被示出。此外，在本发明的如下描述中，当可能使本发明的主题相当不清楚时，包含在本说明书中的已知功能和结构的详细说明将被省略。
另外，当描述本发明的组件时，在本说明书中可能使用诸如第一、第二、A、B、(a)、(b)等这样的术语。这些术语中的每一个并不是用来限定相应组件的重要性、次序或顺序，而只是用来将相应的组件与其它组件进行区分。在描述了特定结构元件与另一个结构元件“连接”、“联接”或“接触”的情况下，应当理解为另一个结构元件可以与多个结构元件“连接”、“联接”或“接触”以及该特定结构元件与另一个结构元件直接连接或者直接接触。
图1和图2是根据本实施方式的显示装置100的系统配置图。
参照图1，根据本实施方式的显示装置100包括：显示面板110，在该显示面板110中，布置有多条数据线DL1-DLm和多条选通线GL1-GLn，并且布置有多个子像素(SP)；数据驱动器120，该数据驱动器120驱动多条数据线DL1-DLm；选通驱动器130，该选通驱动器130驱动多条选通线GL1-GLn；以及控制器140，该控制器140控制数据驱动器120和选通驱动器130。
控制器140将各种类型的控制信号供应给数据驱动器120和选通驱动器130，以控制数据驱动器120和选通驱动器130。
控制器140可以是在一般显示技术中使用的定时控制器、或者是进一步执行包括定时控制器的功能在内的另一控制功能的控制装置。
数据驱动器120通过将数据电压供应到多条数据线DL1-DLm来驱动多条数据线DL1-DLm。这里，数据驱动器120还被称为“源驱动器”。
选通驱动器130通过将扫描信号依次供应到多条选通线GL1-GLn来依次驱动多条选通线GL1-GLn。这里，选通驱动器130还被称为“扫描驱动器”。
选通驱动器130根据控制器140的控制依次将接通电压或断开电压的扫描信号供应到多条选通线GL1-GLn。
当特定选通线通过选通驱动器130打开时，数据驱动器120将从控制器140接收到的图像数据(Data)转换成模拟格式的数据电压(Vdata)，以将该数据电压(Vdata)供应到多条数据线DL1-DLm。
数据驱动器120在图1中仅位于显示面板110的一侧(例如，上侧或下侧)，但是根据驱动方案、面板设计方案等，数据驱动器120也可以位于显示面板110的两侧(例如，上侧和下侧)。
选通驱动器130在图1中仅位于显示面板110的一侧(例如，左侧或右侧)，但是根据驱动方案、面板设计方案等，选通驱动器130也可以位于显示面板110的两侧(例如，左侧和右侧)。
所描述的控制器140利用输入图像数据来从外部(例如，主机系统)接收包括垂直同步信号(Vsync)、水平同步信号(Hsync)、输入数据使能(DE)信号、时钟信号(CLK)等在内的各种定时信号。
为了控制数据驱动器120和选通驱动器130，除了将从外部输入的输入图像数据进行转换以满足数据驱动器120所使用的数据信号格式的步骤以及输出经转换的图像数据的步骤以外，控制器140还接收诸如垂直同步信号(Vsync)、水平同步信号(Hsync)、输入DE信号和时钟信号(CLK)这样的定时信号的输入，生成各种控制信号，并且将所述各种控制信号输出到数据驱动器120和选通驱动器130。
例如，为了控制选通驱动器130，控制器140输出包括选通起始脉冲(GSP)、选通移位时钟(GSC)、选通输出使能(GOE)等在内的各种选通控制信号(GCS)。
这里，选通起始脉冲(GSP)控制选通驱动器130中包括的一个或更多个选通驱动器集成电路的操作起始定时。作为共同输入到一个或更多个选通驱动器集成电路的时钟信号的选通移位时钟(GSC)控制扫描信号(选通脉冲)的移位定时。选通输出使能(GOE)指定一个或更多个选通驱动器集成电路的定时信息。
此外，为了控制数据驱动器120，控制器140输出包括源起始脉冲(SSP)、源采样时钟(SSC)、源输出使能(SOE)等在内的各种数据控制信号(DCS)。
这里，源起始脉冲(SSP)控制数据驱动器120中包括的一个或更多个源驱动器集成电路的数据采样起始定时。源采样时钟(SSC)是控制每个源数据集成电路中的数据的采样定时的时钟信号。源输出使能(SOE)控制数据驱动器120的输出定时。
作为示例，可以像图2一样实现根据如上所述的本实施方式的显示装置100。
参照图2，数据驱动器120可以驱动包括至少一个源驱动器集成电路(SDIC)122的多条数据线。
每个源驱动器集成电路122可以通过带式自动接合(TAB)方法或者玻璃上芯片(COG)方法与显示面板110的接合焊盘连接，或者可以直接布置在显示面板110上。在一些情况下，驱动器集成电路122还可以被集成在显示面板110上。
此外，每个源驱动器集成电路122还可以通过膜上芯片(COF)方案来实现。在这种情况下，每个源驱动器集成电路122可以具有与至少一个源印刷电路板150接合的一个端部和安装在与显示面板110接合的膜121上的另一端。
每个源驱动器集成电路122可以包括移位寄存器、锁存电路、数模转换器(DAC)、输出缓冲器等。
参照图2，选通驱动器130可以包括一个或更多个选通驱动器集成电路(IC)132。
此外，多个选通驱动器IC132可以通过带式自动接合(TAB)方法或者玻璃上芯片(COG)方法与显示面板110的接合焊盘连接，或者可以按照板内选通(GIP)类型来实现并且直接形成在显示面板110上。在一些情况下，选通驱动器IC132还可以被集成在显示面板110上。
每个选通驱动器集成电路132可以通过膜上芯片(COF)方案来实现。在这种情况下，每个选通驱动器集成电路132可以安装在与显示面板110连接的膜131上。这里，膜131可以是柔性膜。
每个选通驱动器集成电路132可以包括移位寄存器、电平位移器等。
参照图2，控制器140例如可以被布置在通过诸如具有与其接合的按照膜上芯片(COF)类型来实现的每个源驱动器集成电路122的源印刷电路板150、以及柔性扁平线缆(FFC)或柔性印刷电路(FPC)这样的连接介质170而连接的控制印刷电路板160上。
还可以在控制印刷电路板160上布置功率控制器(未示出)，该功率控制器向显示面板110、数据驱动器120、选通驱动器130等供应各种电压或电流或者控制要供应的所述各种电压和电路。
上面描述的源印刷电路板150和控制印刷电路板160可以形成为单个印刷电路板。
根据本实施方式的显示装置100可以是诸如液晶显示装置、有机发光显示装置和等离子体显示装置这样的各种类型装置中的一种。
因此，显示面板110还可以是诸如液晶显示面板、有机发光显示面板和等离子体显示面板这样的各种类型面板中的一种。
布置在显示面板110上的每个子像素SP可以包括诸如晶体管这样的电路元件。
例如，当显示面板110是有机发光显示面板时，每个子像素SP可以包括有机发光二极管和诸如用于驱动有机发光二极管的晶体管(DRT：驱动晶体管)这样的电路元件。
可以根据设置功能、设计方案等来不同地确定每个子像素SP中包含的电路元件的类型和数目。
然而，在下文中，为了便于描述，假定显示装置100和显示面板110分别是有机发光显示装置和有机发光显示面板。
图3和图4是根据本实施方式的显示装置100的子像素结构的示例图。
有机发光二极管(OLED)可以包括第一电极(例如，阳极)、有机层、第二电极(例如，阴极)等。
驱动晶体管DRT通过将驱动电流供应到有机发光二极管(OLED)来驱动有机发光二极管(OLED)。
驱动晶体管DRT的第一节点N1可以与有机发光二极管(OLED)的第一电极连接，并且可以是源极节点或漏极节点。
驱动晶体管DRT的第二节点N2可以与开关晶体管SWT的源极节点或漏极节点连接，并且可以是选通节点。
驱动晶体管DRT的第三节点N3可以与供应驱动电压EVDD的驱动电压线(DVL)连接，并且可以是漏极节点或源极节点。
开关晶体管SWT的驱动晶体管DRT可以如图3中的示例那样被实现为n型，但是也可以被实现为p型。
开关晶体管SWT可以连接在数据线DL和驱动晶体管DRT的第二节点N2之间，并且可以通过选通线将扫描信号SCAN施加到选通节点来进行控制。
开关晶体管SWT可以通过扫描信号SCAN而导通，并且将由数据线DL供应的数据电压Vdata传递到驱动晶体管DRT的第二节点N2。
由于这些电路元件当中的恶化水平的差异，这些电路元件当中的特性值的变化水平可以不同。
电路元件的特性值的变化和偏差可以是子像素的特性值的变化和偏差。此外，由于子像素的特性值的变化和偏差，可以生成子像素SP当中的亮度偏差和子像素的亮度的不准确性。因此，显示面板110的图像质量可能降低。
这里，子像素的特性值例如可以是有机发光二极管(OLED)的阈值电压，并且可以包括驱动晶体管DRT的阈值电压和运动水平。
因此，根据本实施方式的显示装置100可以提供用于感测子像素的特性值的变化和偏差的子像素感测功能、以及用于使用感测结果来对子像素的变化和偏差进行补偿的子像素补偿功能。
在这种情况下，可以增加子像素结构中的变化、感测以及补偿配置。
图4是当根据本实施方式的显示装置100是有机发光显示装置时，子像素结构、感测和补偿配置的示例图。
参照图4，除了有机发光二极管(OLED)、驱动晶体管DRT、开关晶体管DWT和存储电容器Cstg以外，布置在根据本实施方式的显示面板110上的每个子像素例如还可以包括感测晶体管(SENT)。
参照图4，感测晶体管SENT连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和供应基准电压Vref的基准电压线RVL之间，并且可以通过将作为扫描信号的类型的感测信号SENSE施加到选通节点来进行控制。
感测晶体管SENT通过感测信号SENSE而导通，并且将通过基准电压线RVL供应的基准电压Vref施加到驱动晶体管DRT的第一节点N1。
另外，感测晶体管SENT还可以执行作为感测路径的功能，使得可以感测到驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压。
另外，可以分别通过另一选通线将感测信号SENSE施加到开关晶体管SWT的选通节点和感测晶体管SENT的选通节点。
在一些情况下，可以通过同一选通线分别将扫描信号SCAN和感测信号SENSE作为同一信号施加到开关晶体管SWT的选通节点和感测晶体管SENT的选通节点。
参照图4，为了感测子像素的特性值的变化和偏差，根据本实施方式的显示装置100可以包括感测单元410、被配置为存储感测单元410的感测结果的存储器420以及被配置为对子像素的特性值的变化和偏差进行补偿的补偿单元430。
为了控制感测驱动，即为了控制子像素SP中的驱动晶体管DRT的第一节点N1在感测子像素的特性值所需要的状态下的电压施加状态，根据本实施方式的显示装置100还可以包括第一开关SW1和第二开关SW2。
第一开关SW1可以控制是否将基准电压Vref供应到基准电压线RVL。
当第一开关SW1被接通以将基准电压Vref供应到基准电压线RVL时，通过导通的感测晶体管SENT来将基准电压Vref施加到驱动晶体管DRT的第一节点N1。
另外，当驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压处于反映子像素的特性值的电压状态下，即基准电压线RVL的电压处于反映子像素的特性值的电压状态下时，第二开关SW2被接通，使得感测单元410和基准电压线RVL相连接。
因此，感测单元410感测处于反映子像素的特性值的电压状态下的基准电压线RVL的电压，即驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压。这里，基准电压线RVL还被称为“感测线”。
关于基准电压线RVL，例如，一条基准电压线可以被布置在每个子像素列中，并且可以被布置在每两个或更多个子像素列中。
例如，当一个像素包括四个子像素(红色像素、白色像素、绿色像素和蓝色像素)时，一条基准电压线RVL可以被布置在每一个像素列中。
由感测单元410感测到的电压可以是用于感测驱动晶体管DRT的阈值电压Vth的电压值，并且可以是用于感测驱动晶体管DRT的运动水平的电压值。
驱动晶体管DRT的第一节点N1的饱和电压与数据电压Vdata和阈值电压Vth之差对应。
因此，由感测单元410感测到的电压与通过从数据电压Vdata中减去驱动晶体管DRT的阈值电压Vth而得到的电压对应。
当子像素被操作用于感测驱动晶体管DRT的迁移率水平时，驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2根据迁移率水平感测操作被分别初始化到用于迁移率水平感测操作的数据电压Vdata和基准电压，然后使驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2二者浮置以增加电压。
感测单元410将用于感测阈值电压或迁移率水平的所感测的电压转换成模拟值，感测感测数据，并且将感测数据存储在存储器420中。
补偿单元430可以基于存储器420中存储的感测数据来控制在相应子像素内的驱动晶体管DRT的特性值(例如，阈值电压和迁移率水平)，并且执行特性值的补偿处理。
这里，特性值的补偿处理可以包括用于对驱动晶体管DRT的阈值电压进行补偿的阈值电压补偿处理和用于对驱动晶体管DRT的迁移率进行补偿的迁移率水平补偿处理。
阈值电压补偿处理可以包括以下处理：计算用于对阈值电压进行补偿的补偿值，以及将经所计算出的补偿值存储在存储器420中或者使用所计算出的补偿值来改变相应的图像数据。
迁移率水平补偿处理可以包括以下处理：计算用于对迁移率水平进行补偿的补偿值，以及将经所计算出的补偿值存储在存储器420中或者使用所计算出的补偿值来改变相应的图像数据。
补偿单元430可以通过阈值电压补偿处理或迁移率水平补偿处理来将通过改变图像数据而改变的数据供应到数据驱动器120内的源驱动器集成电路122。
因此，数据驱动器120将经改变的数据转换成数据电压并且将该数据电压供应到相应的子像素，使得实际上施加特性值补偿(阈值电压补偿和迁移率水平补偿)。
上述的补偿单元430可以对驱动晶体管DRT的特性值进行补偿，以减小子像素当中的亮度偏差或者防止子像素当中的亮度偏差。
另外，感测单元410可以被包括在源驱动器集成电路122中，并且在模数转换器(ADC)中实现。存储器420可以位于控制器140的内部或者控制印刷电路板160上。此外，补偿单元430可以被包括在控制器140的内部或外部。
另外，诸如各种电压布线这样的信号线、诸如晶体管、电容器等这样的各种电路元件、以及各种图案存在于显示面板110中。
当在显示面板110中出现缺陷时，会在显示面板110中出现诸如作为电流过度流动超出正常范围的情况的过载电流这样的异常电流、或者在不允许电流流动的情况下流动的电流。
当在显示面板110中异常电流时，会产生相当高的热量，因此，可能发生显示面板110的一部分(例如，电路元件、偏振板等)或者整个显示面板被烧坏的现象。
通过例如使定位在显示面板110的外部的偏振板(还被称为偏振膜)熔化，可以容易地检查显示面板110的一部分或整个显示面板110由于异常电流而烧坏的现象。
因此，本实施方式可以提供一种用于快速感测异常电流以检测与当出现异常电流时的面板缺陷相同的面板缺陷以及用于执行立即且有效的对策以使得可以提前防止显示面板110的一部分或者整个显示面板110由于异常电流而烧坏的现象的面板缺陷检测方法、用于该面板缺陷检测方法的面板缺陷检测系统、以及包括该面板缺陷检测系统的显示装置100。
在下文中，更详细地描述了面板缺陷检测方法和用于该面板缺陷检测方法的面板缺陷检测系统、以及包括该面板缺陷检测系统的显示装置100。然而，为了便于描述，显示装置100例如是有机发光显示装置。
图5和图6是示意性地例示了在根据本实施方式的显示装置100中根据面板缺陷检测阻抗元件Z的类型或者感测方案(感测位置)类型的面板缺陷检测系统的图。
参照图5和图6，在根据本实施方式的显示装置100中包括的面板缺陷检测系统可以包括：控制开关元件CSW，该控制开关元件CSW电连接在用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na和供应被施加到显示面板110的所述电压的供应节点Ns之间；以及感测模块510，该感测模块510用于感测当控制开关元件CSW被断开时流过所述施加节点的电流或者依照该电流的电压。
这里，控制开关元件CSW被断开的情况可以是指可以在显示面板110正在被驱动的同时检测面板缺陷的情况(状态)。
另外，控制开关元件CSW被断开的情况是如果不存在面板缺陷并且不考虑误差分量(例如，泄露电流等)的话不允许电流流向显示面板110中的施加节点Na的情况。
因此，在控制开关元件CSW被断开的情况下，正被施加到显示面板110的、流过具有用于驱动显示面板110的电压PDV的施加节点的电流可以对应于“异常电流Iab”。
在控制开关元件CSW被断开的情况下，可能出现正被施加到显示面板110的、流过具有用于驱动显示面板110的电压PDV的施加节点的泄露电流。
在进一步考虑泄露电流分量时，在控制开关元件CSW被断开的情况下，如果不存在面板缺陷，则仅允许与泄露电流的大小对应的小量电流流过施加节点Na。
因此，在控制开关元件CSW被断开的情况下，当流过施加节点Na的电流具有低于阈值电流值的电流值时，流过施加节点Na的电流可以被认为是与泄露电流对应的“正常电流”。当流过施加节点Na的电流具有超过阈值电流值的电流值时，流过施加节点Na的电流可以被认为是“异常电流Iab”。
如上所述，在电连接在用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na和供应用于被施加到显示面板110的电压的供应节点Ns之间的控制开关元件CSW的断开情况下，也就是说，在不允许异常电流出现在显示面板110中的情况下，可以通过感测流过用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na的电流来快速且方便地检测是否存在面板缺陷。
根据上述描述，为了进行面板缺陷检测，通过使电连接在用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na和供应用于被施加到显示面板110的电压的供应节点Ns之间的控制开关元件CSW断开，来创建能够检测显示面板110中的异常电流Iab的环境(面板缺陷检测环境)。
这里，考虑到诸如泄露电流这样的正常误差分量，异常电流Iab可以具有甚至比0[A]稍大的电流值、或者超过阈值电流值的电流值。
在面板缺陷检测环境中，在显示面板110上显示用于面板缺陷检测的画面。
因此，数据驱动器120例如将用于面板缺陷检测的数据电压输出到分别与显示面板110中的多个子像素连接的数据线。
这里，用于面板缺陷检测的画面可以是黑色画面等，并且用于显示用于面板缺陷检测的画面的用于面板缺陷检测的数据电压可以是预定的黑色数据电压等。
在面板缺陷检测的定时处，控制器140可以将用于面板缺陷检测的数据输出到数据驱动器120，并且数据驱动器120可以将所接收的用于面板缺陷检测的数据转换成用于面板缺陷检测的数据电压，以输出所转换的数据电压。
感测模块510可以感测当在数据驱动器120中输出用于面板缺陷检测的数据电压时在显示面板110中是否出现异常电流Iab。
根据上述描述，通过数据电压控制，可以通过感测当正在显示诸如黑色画面这样的用于面板缺陷检测的画面的同时出现在显示面板110中的异常电流Iab来检测是否存在面板缺陷。
参照图5和图6，在根据本实施方式的显示装置100中包括的面板缺陷检测系统还可以包括控制模块520，该控制模块520用于控制控制开关元件CSW的接通或断开。
当控制开关元件CSW按照晶体管来实现时，控制模块520可以通过将与控制信号对应的选通信号(参见图7)供应到控制开关元件CSW的选通节点来控制控制开关元件CSW的接通和断开。
可以使用控制模块520来有效地设置用于面板缺陷检测的面板缺陷检测环境。
参照图5和图6，在根据本实施方式的显示装置100中的面板缺陷检测系统还可以包括面板缺陷检测阻抗元件Z，该面板缺陷检测阻抗元件Z的一端与施加节点Na连接。
面板缺陷检测阻抗元件Z执行将异常电流Iab转换成电压分量的功能。
如图5中所例示的，面板缺陷检测阻抗元件Z具有与施加节点Na连接的一端，但是具有可以与接地电压节点GDN连接的另一端。
在这种情况下，面板缺陷检测阻抗元件Z可以是允许在面板缺陷检测的定时处出现由电流引起的阻抗变化的元件，使得可以通过电压感测方案来执行异常电流感测(面板缺陷检测)。
例如，面板缺陷检测阻抗元件Z可以是电容式阻抗元件，然而在一些情况下可以是电阻式阻抗元件。
参照图5，当由于面板缺陷而在显示面板110中出现异常电流Iab时，控制开关元件CSW被断开，并且被引入到施加节点Na中的异常电流Iab因此流向显示面板110中的面板缺陷检测阻抗元件Z。
因此，面板缺陷检测阻抗元件Z的阻抗发生变化，并且因此施加节点Na的电压Va改变。
感测模块510可以感测施加节点Na的电压Va，并且因此感测异常电流Iab是否出现或者显示面板110中的电流的大小。
另外，如图6中所例示的，面板缺陷检测阻抗元件Z具有与施加节点Na连接的一端，但是具有可以与接地供应节点Ns连接的另一端。
在这种情况下，面板缺陷检测阻抗元件Z可以是用于使用用于测量施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差的方案来感测异常电流(面板缺陷检测)的阻抗元件。
在本说明书中，施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差可以是通过当施加节点Na在施加节点Na和供应节点Ns之间具有更高的电位时从施加节点Na的电压Va减去供应节点Ns的电压Vs而获得的电压(Va-Vs)，并且可以是通过当供应节点Ns在施加节点Na和供应节点Ns之间具有更高的电位时从供应节点Ns的电压Vs减去施加节点Na的电压Va而获得的电压(Vs-Va)。
例如，面板缺陷检测阻抗元件Z可以是电阻式阻抗元件，然而在一些情况下可以是电容式阻抗元件。
参照图6，当由于存在面板缺陷而在显示面板110中出现异常电流Iab时，控制开关元件CSW被断开，并且被引入到施加节点Na中的异常电流Iab因此流向显示面板110中的面板缺陷检测阻抗元件Z。
因此，由于面板缺陷检测阻抗元件Z而出现施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差。
感测模块510感测施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差Vas，并且因此可以感测异常电流Iab是否出现在显示面板110中以及异常电流Iab的大小。
参照图5和图6，感测模块510可以通过电压感测方案来感测流过施加节点Na的电流。
感测模块510可以感测施加节点Na的电压Va、面板缺陷检测阻抗元件Z的阻抗、施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差Vas，以便感测当控制开关元件CSW被断开时流过施加节点Na的电流。
换句话说，在不允许电流流动的情况下或者在虽然允许电流流动但是仅允许适当水平的微电流流动的情况下，感测模块510可以通过将在显示面板110中产生的甚至微电流转换成电压分量，使用电压感测方案来准确地感测在显示面板110中产生并且经由面板缺陷检测阻抗元件Z流到施加节点Na的电流。因此，可以准确且有效地检测面板缺陷。
另外，参照图5和图6，当控制开关元件CSW被断开时，根据本实施方式的显示装置100中的面板缺陷检测系统还可以包括面板缺陷对策处理单元530，该面板缺陷对策处理单元530用于存储面板缺陷代码，存储面板缺陷位置信息或者输出面板缺陷对策控制信号(例如，断电控制信号等)，通过考虑已经出现通过施加节点Na的异常电流Iab，当施加节点Na的电压Va等于或大于阈值电压时，面板缺陷检测阻抗元件Z的阻抗等于或大于阈值阻抗，或者施加节点Na和供应节点Ns之间的电位差Vas等于或大于阈值电位差。
通过面板缺陷对策处理单元530，可以通过执行针对面板缺陷的快速对策处理来提前防止由于面板缺陷显示面板110的一部分或者整个显示面板110被烧坏的情况。
另外，形成包括在根据本实施方式的显示装置100中的面板缺陷检测系统的元件Na、Ns、CSW、Z、510、520、530中的每一个可以被布置在各种位置并且被实现为各种类型。
例如，控制开关元件CSW可以位于显示面板110、源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上。
感测模块510可以位于源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上，或者可以包括在控制模块520的内部，并且在一些情况下可以被包括在数据驱动器120的内部。
施加节点Na可以位于显示面板110上，并且可以位于源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上。
供应节点Ns还可以位于显示面板110上，定位在源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上，并且可以是电源装置(未示出)的输出端子。
面板缺陷对策处理单元530可以位于源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上，或者可以是控制器140或者控制器140的内部模块，或者可以被包括在控制模块520的内部。
控制模块520可以位于源印刷电路板150或者控制印刷电路板160上。
控制模块520可以使用半导体元件被实现在集成电路(IC)中或者被实现在控制电路中。
控制模块520可以是与控制器140不同的模块，并且在一些情况下可以是控制器140或者控制器140内的内部模块。
如上所述，考虑到显示装置100的其它元件，可以将面板缺陷检测系统的元件Na、Ns、CSW、Z、510、520、530布置在各种位置并且按照各种形式来实现。
图7是例示在根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷检测系统中控制开关元件CSW的操作定时和面板缺陷检测定时的图。
参照图7，根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷检测系统设置用于面板缺陷检测的面板缺陷检测环境。
为此，在显示面板110中不出现电流的情况下，例如在显示黑色画面的情况下，面板缺陷检测系统将该情况识别为面板缺陷检测定时，以便设置面板缺陷检测环境。
这里，面板缺陷检测定时(面板缺陷检测间隔)可以是显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面)的间隔、感测到子像素的特性值的间隔(还可以在该间隔中显示黑色画面)、以及当正在驱动图像的同时显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面)的间隔等。
面板缺陷检测定时(面板缺陷检测间隔)例如可以是黑色画面显示驱动间隔。
当识别面板缺陷检测定时时，面板缺陷检测系统使控制开关元件CSW断开，以创建如果不存在面板缺陷则不允许异常电流Iab流向显示面板110中的施加节点Na的情况(面板缺陷检测环境)，并且当设置面板缺陷检测环境时执行面板缺陷检测。
为此，在当不存在面板缺陷时不允许异常电流出现在显示面板110中的情况(即，在显示面板110中出现不异常电流的情况(不允许异常电流出现的情况))下，可以通过控制模块520使控制开关元件CSW断开。
这里，在显示面板110中产生的甚至少量的电流I(即，不是0[A]的电流I)可以是异常电流Iab。
另选地，当出现诸如泄露电流这样的具有比通过正常误差分量而产生的微电流值(预定阈值电流值)Ith大的电流值的电流I时，该电流I可以是异常电流Iab。
-正常状态：I＝0或者I≤Ith
-异常状态：I≠0或者
在从在显示面板110上显示的画面的角度来描述面板缺陷检测环境时，面板缺陷检测环境可以是显示具有等于或小于预定特定值的亮度的画面的环境。
为此，可以在显示具有等于或小于预定特定值的亮度的画面的间隔中使控制开关元件CSW断开。
也就是说，控制开关元件CSW可以在黑色画面显示驱动间隔中处于断开状态，并且在不是黑色画面显示驱动间隔(正常画面显示驱动间隔)的其它正常间隔中处于接通状态。
如上所述，在显示面板110中不出现异常电流的间隔中，或者在以画面的角度来显示具有等于或小于预定特定值的亮度的画面的间隔中，可以通过控制控制开关元件CSW进行断开来控制能够容易且准确地检测是否存在面板缺陷的环境和定时。
另外，由于显示具有等于或小于预定特定值的亮度的画面(例如，黑色画面等)的间隔被设置为面板缺陷检测间隔以检测面板缺陷，因此有利之处还在于在面板缺陷检测时根本不打扰用户的观看。
控制开关元件CSW可以按照p型晶体管来实现，并且可以按照n型晶体管来实现。
参照图7，控制模块520可以将适于控制开关元件CSW类型(n型和p型)的选通信号输入到控制开关元件CSW的选通节点。然而，在下文中，为了便于描述，假定控制开关元件CSW被实现为n型。
如上所述，面板缺陷检测阻抗元件Z可以是允许在面板缺陷检测的定时处出现由电流引起的电压差的元件，使得可以通过电压感测方案来执行异常电流感测(面板缺陷检测)。
面板缺陷检测阻抗元件Z例如可以是面板缺陷检测电阻器Rdet，该面板缺陷检测电阻器Rdet具有与施加节点Na连接的一端和与供应节点Ns连接的另一端。
如上所述，当电阻式阻抗元件适于感测方案(面板缺陷检测方法)或面板缺陷检测系统的电路配置时，面板缺陷检测电阻器Rdet可以被用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
另外，面板缺陷检测阻抗元件Z又例如可以是面板缺陷检测电容器Cdet，该面板缺陷检测电容器Cdet具有与施加节点Na连接的一端和与接地电压节点GDN或者供应节点Ns连接的另一端。
这里，接地电压节点GDN是被施加预定接地电压的节点，其中，该预定接地电压例如可以是0[V]或者比0[V]稍小或稍大的电压(例如，-1[V]、0.5[V]等)，并且可以根据用于驱动显示面板110的电压PDV的类型和电路设计具有与供应节点Ns相同的电压值。
如上所述，当电容式阻抗元件适于感测方案(面板缺陷检测方法)或面板缺陷检测系统的电路配置时，面板缺陷检测电容器Cdet可以被用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
另外，当显示面板110是布置有各自包括有机发光二极管(OLED)和用于驱动有机发光二极管(OLED)的驱动晶体管DRT在内的多个子像素的有机发光显示面板时，用于显示面板110的电压PDV可以是施加到可以是驱动晶体管DRT的漏极节点或源极节点的第三节点N3的电压(例如，驱动电压EVDD等)，或者可以是能够被施加到有机发光二极管(OLED)的阳极或阴极的电压(例如，接地电压EVSS等)。
如上所述，当在电连接在用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na和供应用于被施加到显示面板110的电压的供应节点Ns之间的控制开关元件CSW的断开情况下执行面板缺陷检测时，可以感测在施加了用于驱动显示面板110的各种面板驱动电压PDV的点Na处流动的电流，以便检测面板缺陷。
在下文中，面板缺陷检测系统将被划分成四种类型，并且根据面板驱动电压PDV的类型和面板缺陷检测阻抗元件Z的类型进行描述。
图8、图9、图10和图11是简单地例示了在根据本实施方式的显示装置中根据面板驱动电压PDV和面板缺陷检测阻抗元件Z的类型的四种面板缺陷检测系统(第一面板缺陷检测系统、第二面板缺陷检测系统、第三面板缺陷检测系统和第四面板缺陷检测系统)。
在图8中简单例示的第一面板缺陷检测系统利用具有施加到显示面板110的接地电压EVSS的施加节点Na1作为面板驱动电压PDV的类型，并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
在图9中简单例示的第二面板缺陷检测系统利用具有施加到显示面板110的接地电压EVSS的施加节点Na1作为面板驱动电压PDV的类型，并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
在图10中简单例示的第三面板缺陷检测系统利用具有施加到显示面板110的驱动电压EVDD的施加节点Na2用于面板驱动电压PDV的另一种类型，并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
在图11中简单例示的第四面板缺陷检测系统利用具有施加到显示面板110的驱动电压EVDD的施加节点Na2用于面板驱动电压PDV的另一种类型，并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z。
参照图8，在第一面板缺陷检测系统中，控制开关元件CSW可以电连接在接地电压EVSS被施加到显示面板110中的每个子像素的有机发光二极管(OLED)的阴极的施加节点Na1和供应接地电压EVSS的供应节点Ns1之间。
这里，施加电极Na1可以位于显示面板110中的被施加接地电压EVSS的阴极上，或者可以与该阴极电连接。
另外，接地电压EVSS是阴极电压和一种类型的面板驱动电压PDV。
在第一面板缺陷检测系统中，用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电容器Cdet可以电连接在施加节点Na1和接地电压节点GDN之间。
这里，当接地电压EVSS被配置为接地电压时，供应节点Ns1和接地电压节点GDN可以是等电位点。
控制模块520输出控制信号以控制控制开关元件CSW在面板缺陷检测间隔(面板缺陷检测定时)中断开，该面板缺陷检测间隔可以是显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面)的间隔、感测子像素特性值的间隔(还可以在该间隔中显示黑色画面)、或者当正在驱动图像的同时显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面)的间隔。
因此，当在显示面板110中出现异常电流Iab1时，所出现的异常电流Iab1无法流过控制开关元件CSW并且对面板缺陷检测电容器Cdet进行充电。
当面板缺陷检测电容器Cdet被充电时，施加节点Na1的电压Va1增加。
感测模块510可以感测施加节点Na1的电压Va1，并且将所感测的电压Va1输出到面板缺陷对策处理单元530作为面板缺陷检测信号，或者将指示施加节点Na1的电压Va1已经得到增加的面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530。
因此，面板缺陷对策处理单元530可以接收面板缺陷检测信号，并且识别是否存在面板缺陷以执行预定的对策处理。
另外，在图8中的第一面板缺陷检测系统中，尽管利用电连接在施加节点Na1和接地电压节点GDN之间的面板缺陷检测电阻器Rdet，而不是利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z，然而用于感测施加节点Na1的电压Va1的方案等都是相同的。
参照图9，在第二面板缺陷检测系统中，控制开关元件CSW可以电连接在接地电压EVSS被施加到显示面板110中的每个子像素的有机发光二极管(OLED)的阴极的施加节点Na1和供应接地电压EVSS的供应节点Ns1之间。
在第二面板缺陷检测系统中，用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet可以电连接在施加节点Na1和供应节点Ns1之间。
因此，当在显示面板110中出现异常电流Iab1时，所出现的异常电流Iab1无法流过控制开关元件CSW，而是流过面板缺陷检测电阻器Rdet。
因此，发生电压下降，并且因此出现面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas1。
感测模块510可以感测面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas1(即，施加节点Na1和供应节点Ns1之间的电位差Vas1)，并且将所感测的电位差Vas1作为面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530，或者将指示已经出现面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas1的面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530。
参照图10，在第三面板缺陷检测系统中，控制开关元件CSW可以电连接在作为另一种类型的面板驱动电压PDV的驱动电压EVDD被施加到可以是显示面板110中的每个子像素的驱动晶体管DRT的漏极节点或源极节点的第三节点N3的施加节点Na2和供应驱动电压EVDD的供应节点Ns2之间。
这里，施加节点Na1可以位于显示面板110中的驱动电压线DVL上，或者可以与驱动电压线DVL电连接。
在第三面板缺陷检测系统中，用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电容器Cdet可以电连接在施加节点Na2和接地电压节点GDN之间。
因此，当在显示面板110中出现异常电流Iab2时，所出现的异常电流Iab2无法流过控制开关元件CSW并且对面板缺陷检测电容器Cdet进行充电。
当面板缺陷检测电容器Cdet被充电时，施加节点Na2的电压Va2增加。
感测模块510可以感测施加节点Na2的电压Va2，并且将所感测的电压Va2输出到面板缺陷对策处理单元530作为面板缺陷检测信号，或者将指示施加节点Na2的电压Va2已经得到增加的面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530。
另外，在图10中的第三面板缺陷检测系统中，尽管利用电连接在施加节点Na2和接地电压节点GDN之间的面板缺陷检测电阻器Rdet，而不是利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z，然而用于感测施加节点Na2的电压Va2的方案等都是相同的。
参照图11，在第四面板缺陷检测系统中，控制开关元件CSW可以电连接在作为另一种类型的面板驱动电压PDV的驱动电压EVDD被施加到可以是显示面板110中的每个子像素的驱动晶体管DRT的漏极节点或源极节点的第三节点N3的施加节点Na2和供应驱动电压EVDD的供应节点Ns2之间。
这里，施加节点Na2可以位于显示面板110中的驱动电压线DVL上，或者可以与驱动电压线DVL电连接。
在第四面板缺陷检测系统中，用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet可以电连接在施加节点Na2和供应节点Ns2之间。
因此，当在显示面板110中出现异常电流Iab2时，所出现的异常电流Iab2无法流过控制开关元件CSW，而是流过面板缺陷检测电阻器Rdet。
因此，发生电压下降，并且因此出现面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas2。
感测模块510可以感测面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas2(即，施加节点Na2和供应节点Ns2之间的电位差)，并且将所感测的电位差Vas2作为面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530，或者将指示已经出现面板缺陷检测电阻器Rdet的两端之间的电位差Vas2的面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530。
在上面描述的面板缺陷检测系统中，感测模块510、控制模块520等可以被实现为各种类型。
另外，根据显示装置100的附加功能(例如，子像素特性值感测、补偿功能等)，面板缺陷检测系统可以包括附加电路等。
在下文中，将分别描述上面简单描述的第一面板缺陷检测系统、第二面板缺陷检测系统、第三面板缺陷检测系统和第四面板缺陷检测系统的各种实现的示例。
图12、图13、图14、图15、图16、图17、图18、图19、图20和图21是根据本实施方式的第一面板缺陷检测系统的实现的示例。
参照图12，在利用接地电压EVSS作为一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na1、并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第一面板缺陷检测系统中，感测模块510可以包括根据施加节点Na1的电压Va1的变化而导通并且输出面板缺陷检测信号的面板缺陷检测晶体管PDDT、以及连接在面板缺陷检测晶体管PDDT和施加节点Na1之间的齐纳二极管ZD。
当存在面板缺陷时，在显示面板110中出现的异常电流Iab1被引入到施加节点Na1，对面板缺陷检测电容器Cdet进行充电，并且使施加节点Na1的电压Va1增加。
当施加节点Na1的电压Va1变得等于或大于作为齐纳二极管ZD的特性值的齐纳电压Vz时，面板缺陷检测晶体管PDDT的选通节点的电压也变得等于或大于齐纳电压Vz，使得面板缺陷检测晶体管PDDT导通。
这里，可以要求将齐纳二极管ZD设计为具有能够使面板缺陷检测晶体管PDDT导通的齐纳电压Vz。
当面板缺陷检测晶体管PDDT导通时，面板缺陷检测晶体管PDDT可以将面板缺陷检测信号输出到面板缺陷对策处理单元530。
这里，当假定面板缺陷检测晶体管PDDT的漏极节点或源极节点与接地电压节点连接时，面板缺陷检测晶体管PDDT在导通时可以将与接地电压对应的面板缺陷检测信号输出到源极节点或漏极节点。
因此，面板缺陷对策处理单元530可以假定当输入了面板缺陷检测信号的点的电压处于高电平，并且输入了面板缺陷检测信号的点的电压通过输入与接地电压对应的面板缺陷检测信号而下降到接地电压(低电平电压)时存在面板缺陷，并且执行与该面板缺陷对应的对策处理。
如图12中所例示的，通过将感测模块510配置为包括面板缺陷检测晶体管PDDT、齐纳二极管ZD等在内的电路，感测模块510可以按低价格实现并且容易被实现在源印刷电路板150、控制印刷电路板160等上。
在图12中，假定被施加到供应节点Ns的接地电压EVSS为接地电压。
所描述的电源单元1310例如可以按照可以仅实现电流提供并抑制电流吸收的DC-DC转换器来实现。
在子像素特性值感测驱动时，开关元件SW已经被接通，控制开关元件CSW已经被断开。
可以在没有反向电流阻止二极管Di的情况下通过电源单元1310中包括的反向电流阻止电路来提供反向电流阻止功能。
根据上述内容，在子像素特性值感测驱动时，可以通过阻止反向电流进入电源单元1310来准确地执行子像素特性值感测和面板缺陷检测。
参照图16、图17和图18，在第一面板缺陷检测系统中，感测模块510可按照集成电路或半导体元件来实现，用于感测施加节点Na1的电压或者面板缺陷检测阻抗元件Z的两端之间的电位差。因此，感测模块510可以容易地在控制模块520的内部实现。
如上所述，可以通过实现控制模块520内部的感测模块510来减少用于面板缺陷检测的配置的数目。
参照图17，例如，可以按照可以仅实现电流提供并抑制电流吸收的DC-DC转换器来实现的电源单元1310可以具有在没有图13中的开关元件的情况下受控制模块520控制的电力供应。
另外，为了阻止反向电流，可以不像图13中所例示的那样在电源单元1310和开关元件SW之间连接反向电流阻止二极管的Dib，而是如图18中所例示的，电源单元1310可以执行过去由反向电流阻止二极管Dib执行的反向电流阻止功能。
另外，感测模块510可以按照如同在图12和图13中一样的电路来实现。然而，在一些情况下，感测模块510可以按照将模拟电压值转换为数字值的模数转换器(ADC)来实现。
此外，感测模块510可以被实现为包括将施加节点Na1的电压Va1与比较基准电压Vr进行比较的比较器COMP19。
当施加节点Na1的电压Va1高于比较基准电压Vr时，比较器COMP19可以输出面板缺陷检测信号。这里，比较基准电压Vr可以是与图12和图13中的齐纳二极管ZD的齐纳电压Vz对应的电压。
如上所述，可以通过比较器COMP19来实现简单的感测模块510。
参照图20和图21，感测模块510可以被实现为包括与施加节点Na1连接的降压转换器电路2000、感测在降压转换器电路2000中包括的晶体管TR2中流动的电流的功率集成电路2010等。
作为阻直流-直流转换器的一种类型，降压转换器电路2000可以具有电感器L、控制电感器L的两个开关元件TR1、T2、以及电容器C等。
如上所述，当感测模块510通过利用降压转换器电路2000来使用时，可以更有效地检测面板缺陷。
感测模块510可以具有通过如图20中所例示地通过控制模块520来控制功率集成电路2010而进行控制的面板缺陷检测(异常电流感测)操作，或者可以具有如图21中所例示地通过单独的开关元件SW21进行控制的面板缺陷检测(异常电流感测)操作。
图22和图23是根据本实施方式的第二面板检测系统的实现的示例。
参照图22，在利用接地电压EVSS作为一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na1、并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第二面板缺陷检测系统中，感测模块510可以与用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet的两端连接，并且基于用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet的两个端部的电压Va1、Vs1来感测流过施加节点Na1的电流(异常电流)。
如上所述，当利用用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet时，可以提供能够有效检测面板缺陷的异常电流Iab1的感测方案。
如图22中所例示的，感测模块510可以包括差分放大器AMP22和比较器COMP22等，该差分放大器AMP22接收与面板缺陷检测阻抗元件Z对应的面板缺陷检测电阻器Rdet的两个端部的电压Va1、Vs1的输入作为两个输入电压，并且输出与这两个输入电压Va1、Vs1之间的差分增益倍数差对应的输出电压Vo1，该比较器COMP22接收差分放大器AMP22的输出电压Vo1的输入和比较基准电压Vr22的输入，并且输出面板缺陷检测信号作为输出信号Vof1。
如上所述，当利用用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电阻器Rdet时，可以使用面板缺陷检测电阻器Rdet的两个端部的电压来实现用于面板缺陷检测的感测模块510。
参照图23，在利用接地电压EVSS作为一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na1、并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第二面板缺陷检测系统中，感测模块510可以按照集成电路或半导体元件来实现，并且可以包括在控制模块520中。
由于供应节点Ns1与接地电压节点GDN对应，因此感测模块510可以仅感测施加节点Na1的电压Va1并且输出面板缺陷检测信号。
图24、图25、图26和图27是根据本实施方式的第三面板缺陷检测系统的实现的示例。
参照图24，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na2、并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第三面板缺陷检测系统中，感测模块510可以包括差分放大器AMP24和比较器COMP24等，该差分放大器AMP24接收施加节点Na2的电压Va2的输入和供应节点Ns2的电压Vs2的输入作为两个输入电压，并且输出与这两个输入电压之间的预定差分增益倍数差对应的输出信号Vo2，该比较器COMP24将差分放大器AMP24的输出信号Vo2和比较基准电压Vr24进行比较，并且输出与面板缺陷检测信号对应的输出信号Vof2。
参照图25，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na2、并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第三面板缺陷检测系统中，感测模块510可以感测控制开关元件CSW的两个端部的电压(即，施加节点Na2的电压Va2和供应节点Ns2的电压Vs2)。
感测模块510可以按照集成电路或半导体元件来实现，并且可以包括在控制模块520中。
参照图26，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na2、并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第三面板缺陷检测系统中，感测模块510可以包括差分放大器AMP26和比较器COMP26等，该差分放大器AMP26接收与用于面板缺陷检测阻抗元件Z的面板缺陷检测电容器Cdet的一端的电压对应的施加节点Na2的电压Va2的输入和另一个电压(例如，接地电压)的输入作为两个输入电压，并且输出与这两个输入电压之间的差分增益倍数差对应的输出信号Vo2，该比较器COMP26将差分放大器AMP26的输出信号Vo2和比较基准电压Vr26进行比较，并且输出与面板缺陷检测信号对应的输出信号Vof2。
参照图27，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na1、并且利用面板缺陷检测电容器Cdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第三面板缺陷检测系统中，感测模块510可以感测控制开关元件CSW的一端的电压(即，施加节点Na2的电压Va2)。
图28和图29是根据本实施方式的第四面板缺陷检测系统的实现的示例。
参照图28，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na2、并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第四面板缺陷检测系统中，感测模块510可以包括差分放大器AMP28和比较器COMP28等，该差分放大器AMP28接收施加节点Na2的电压Va2的输入和供应节点Ns2的电压Vs2的输入作为两个输入电压，并且输出与这两个输入电压之间的预定差分增益倍数差对应的输出信号Vo2，该比较器COMP28将差分放大器AMP28的输出信号Vo2和比较基准电压Vr28进行比较，并且输出与面板缺陷检测对应的输出信号Vof2。
参照图29，在利用驱动电压EVDD作为另一种类型的面板驱动电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na2、并且利用面板缺陷检测电阻器Rdet用于面板缺陷检测阻抗元件Z的第四面板缺陷检测系统中，感测模块510可以感测控制开关元件CSW的两个端部的电压(即，面板缺陷检测电阻器Rdet的两个端部的电压Va2、Vs2)。
参照图30，当显示诸如黑色画面这样的具有等于或小于特定值的亮度的画面时，控制开关元件CSW被断开。
因此，显示具有等于或小于特定值的亮度的画面的间隔(即，控制开关元件CSW被断开的间隔)与所描述的面板缺陷检测操作(感测操作和面板缺陷对策处理)正在进行处理的面板缺陷检测间隔对应。
参照图30，由于不存在面板缺陷，在面板缺陷检测间隔期间以低水平来保持所感测的电压(例如，Va1、Va2、Vas1、Vas2等)。
参照图30，由于存在面板缺陷，因此在面板缺陷检测间隔结束之后再次使控制开关元件CSW接通。
参照图31，当显示诸如黑色画面这样的具有等于或小于特定值的亮度的画面时，控制开关元件CSW被断开。
参照图31，由于存在面板缺陷，因此在面板缺陷检测间隔期间使所感测的电压(例如，Va1、Va2、Vas1、Vas2等)从低水平变为高水平。
参照图31，由于存在面板缺陷，因此即使在面板缺陷检测间隔结束之后也使控制开关元件CSW保持在断开状态。面板缺陷检测结果被锁存。
图32是根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷检测方法的流程图。
参照图32，根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷检测方法包括以下步骤：用于设置面板缺陷检测环境的步骤S3220、用于检测是否存在面板缺陷的步骤S3230、用于处理面板缺陷对策的步骤S3240等。
在用于设置面板缺陷检测环境的步骤S3220中，显示装置100可以通过使电连接在用于驱动布置有多条数据线和多条选通线并且布置有多个子像素的显示面板110的电压PDV(例如，EVSS、EVDD等)被施加到显示面板110的施加节点Na与供应被施加到显示面板110的电压PDV(例如，EVSS、EVDD等)的供应节点Ns之间的控制开关元件CSW断开来设置面板缺陷检测环境。
在用于检测面板缺陷是否存在的步骤S3230中，显示装置100可以基于通过感测是否出现当控制开关元件CSW被断开时从显示面板110流向施加节点Na的电流或者该电流的大小而获得的结果，来检测是否存在面板缺陷。
在用于处理面板缺陷对策的步骤S3240中，显示装置100可以在当出现从显示面板110流向施加节点Na的电流或者感测到从显示面板110流向施加节点Na的电流的大小等于或大于阈值电流值时，执行预定的对策处理。
当使用根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷检测方法时，在电连接在用于驱动显示面板110的电压PDV(例如EVSS、EVDD等)被施加到显示面板110的施加节点Na与供应被施加到显示面板110的电压的供应节点Ns之间的控制开关元件CSW的断开情况下(即，在不允许在显示面板110中出现异常电流的情况下)，可以通过感测流过用于驱动显示面板110的电压PDV被施加到显示面板110的施加节点Na的电流来快速且方便地检测是否存在面板缺陷。
另外，参照图32，在用于设置面板缺陷检测环境的步骤S3220之前，根据本实施方式的显示装置100的面板缺陷间隔方法还可以包括用于识别面板缺陷检测间隔的步骤S3210。
在用于识别面板缺陷检测间隔的步骤S3210中，显示装置100可以识别显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面等)的间隔、感测子像素特性值的间隔、或者当正在驱动图像的同时显示具有等于或小于特定值的亮度的画面(例如，黑色画面等)的间隔。
如上所述，当不存在面板缺陷时，显示面板110可以识别不出现异常电流的间隔(1、显示具有等于或小于特定值的亮度的画面的间隔；2、感测子像素特性值的间隔；3、当正在驱动图像的同时显示具有等于或小于特定值的画面的间隔)作为面板缺陷检测间隔，以便通过是否出现异常电流来容易且准确地检测是否存在面板缺陷。
根据如上所述的本实施方式，可以提供一种能够通过感测在显示面板110中出现的电流来检测面板缺陷的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
另外，根据本实施方式，可以提供一种能够通过将在显示面板110中产生的电流转换成电压并且感测该电压来更准确地检测面板缺陷的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，可以提供一种能够通过简单电路来实现面板缺陷检测的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，可以提供一种能够准确地检测各种类型的面板缺陷的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，可以提供一种能够通过在出现面板缺陷时立即且快速地检测面板缺陷来提前防止显示面板110的一部分或者整个显示面板110被破坏或烧坏的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
此外，根据本实施方式，可以提供一种能够在根本不影响用户的观看或屏幕操作的情况下检测面板缺陷的显示装置100、面板缺陷检测系统以及面板缺陷检测方法。
上述说明书和附图提供了本发明的技术思想的示例，仅用于例示性目的。本发明所属的技术领域中的具有公知常识的人将要领会的是，在不背离本发明的本质特征的情况下，能够按照诸如配置的组合、分离、替换和改变的形式来进行各种修改和变动。因此，本发明所公开的实施方式旨在说明本发明的技术思想的范围，并且本发明的范围不受实施方式的限制。本发明的范围应当按照包括在与权利要求等同的范围内的所有技术思想都属于本发明的方式在所附的权利要求的基础上被理解。
本申请要求于2015年6月30日提交的韩国专利申请No.10-2015-0093818的优先权，该韩国专利申请出于所有目的通过引用方式并入本文中，如同在本文中完全阐述一样。